JEDEC規格 JESD 22-A108, Revision G, 2022: Temperature, Bias, and Operating Life
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※掲載の規格は、当ウェブ・ショップに掲載時点で確認できた最新版でございます。 最新の発行状況につきましては受注時に改めて確認をさせて頂きますので予めご了承下さい。
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Description
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices’ operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortality-related failures. The detailed use and application of burnin is outside the scope of this document.