JEDEC規格 JESD22-A103, Revision E, 2015: High Temperature Storage Life

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JEDEC規格 JESD22-A103, Revision E, 2015【見積商品】

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Description

The test is applicable for evaluation, screening, monitoring, and/or qualification of all solid state devices.

The high temperature storage test is typically used to determine the effects of time and temperature, under storage conditions, for thermally activated failure mechanisms and time-to-failure distributions of solid state electronic devices, including nonvolatile memory devices (data retention failure mechanisms). Thermally activated failure mechanisms are modeled using the Arrhenius Equation for acceleration. During the test, accelerated stress temperatures are used without electrical conditions applied. This test may be destructive, depending on time, temperature and packaging (if any).

書名	JEDEC JESD22-A103, Revision E, 2015: High Temperature Storage Life (amendments and changes through 01, July 2021) JEDEC規格 JESD 22-A103 Revision E, 2015年版: 高温保管寿命
発行元	JEDEC
発行年／月	2021年7月
装丁	ペーパー
ページ数	12 ページ
発送予定	御見積時にお知らせします